什么是现场失效模式

现场失效模式指的是电子元器件或产品在现场使用过程中，由于各种原因（如应力、环境因素、操作不当等）导致的失效的形式和现象。这些失效模式可能包括开路、短路、无功能、参数漂移或退化等，它们会影响电子元器件的正常工作，并可能导致整个系统无法按预期完成设计功能。

例如，一个电子元件可能在经过一段时间的现场使用后，其电性能参数不再满足规定的要求，这就是一个典型的现场失效模式。在电子产品设计和制造过程中，识别和分析这些潜在的失效模式是非常重要的，因为这有助于采取预防措施，提高产品的可靠性和寿命。

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